本文標(biāo)題："金相試樣截取后的正確處理方法--金相顯微鏡檢測(cè)"

發(fā)布者：MISS-GU ------ 分類: 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過 -----時(shí)間：2016-5-21 9:47:35

金相試樣截取后的正確處理方法--金相顯微鏡檢測(cè)

    一般情況下，進(jìn)行試樣檢測(cè)之前，都要經(jīng)過篩選，
有的還要截取，那么該如何正確的處理這樣的試樣呢？

    當(dāng)試樣完成截取后，我們需要根據(jù)不同的情況對(duì)試
樣材料進(jìn)行檢查，如其材料的特性、檢驗(yàn)的目的、
形狀的不同等等，

    首先要進(jìn)行挑選，如果說試樣的形狀是規(guī)范的，那
么就不需要進(jìn)行鑲嵌，我們就要把他給挑出來(lái)，為了和
其他試樣區(qū)分開，還要給其做好標(biāo)記，這個(gè)標(biāo)記應(yīng)標(biāo)
在試樣磨面的背面，可以用電刻和打印等方法，

    標(biāo)記標(biāo)好后，還有一項(xiàng)工作，就是對(duì)試樣磨面邊緣
的處理，要處理的地方就是邊緣的倒角部位，為了避
免在磨光和拋光中試樣和其他輔助物有損失，需要
進(jìn)行試樣表層的處理，

    挑選材料時(shí)，一定要切記，對(duì)于有的試樣其邊緣是不
能給磨圓的，遇到這種情況，那么其試樣就必須要進(jìn)
行鑲嵌方法的處理。處理后的試樣才可以進(jìn)行檢測(cè)。
   
 

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